ANSI/TIA/EIA 455-59-A-2000 使用一个OTDR测量光纤点缺陷

作者:标准资料网 时间:2024-05-04 10:08:25   浏览:9223   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:MeasurementofFiberPointDefectsUsinganOTDR
【原文标准名称】:使用一个OTDR测量光纤点缺陷
【标准号】:ANSI/TIA/EIA455-59-A-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光纤;光波导;测量技术;缺陷与故障
【英文主题词】:fibreoptics;measuringtechniques;opticalwaveguides;defects
【摘要】:
【中国标准分类号】:M33
【国际标准分类号】:33_180_10
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:StandardTestMethodforSodiuminResidualFuelOil(FlamePhotometricMethod)
【原文标准名称】:测定残留燃料油中钠的标准试验方法(火焰光度测定法)
【标准号】:ASTMD1318-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Content;Determinationofcontent;Fueloil;Lubricants;Petroleumproducts;Sodium;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:Z29
【国际标准分类号】:75_160_20
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法
英文名称:Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料
ICS分类:
替代情况:GB 11446.6-1989
发布部门: 信息产业部(电子)
发布日期:1997-09-01
实施日期:1998-09-01
首发日期:1989-06-22
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:信息产业部(电子)
起草单位:北京半导体器件三厂
出版日期:1900-01-01
页数:3页
适用范围

本标准规定了电子级水是二氧化硅的分光光度测定方法。本标准适用于电子级水中二氧化硅的测定,分析下限为1μg/L。

前言

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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料