DIN 41792 Bb.1-1971 用于通讯技术的半导体元件.晶体管测量方法
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时间:2024-05-05 17:08:31
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【英文标准名称】:Semiconductordevicesfortelecommunication;measuringmethods,transistors
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.晶体管测量方法
【标准号】:DIN41792Bb.1-1971
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1971-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;晶体管;短路电流;电气工程;测量技术;发射极;半导体;乱真信号;直流电流
【英文主题词】:semiconductordevices;transistors;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;short-circuitcurrents;emitters;noise(spurioussignals);directcurrent;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2400
【页数】:14P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.晶体管测量方法
【标准号】:DIN41792Bb.1-1971
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1971-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;晶体管;短路电流;电气工程;测量技术;发射极;半导体;乱真信号;直流电流
【英文主题词】:semiconductordevices;transistors;electricalengineering;measuringtechniques;semiconductors;short-circuitcurrents;emitters;noise(spurioussignals);directcurrent;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:2400
【页数】:14P;A4
【正文语种】:德语
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